Use of pressure for quantum-well-band-structure characterization

Par Conseil national de recherches du Canada

AuteurRechercher : ; Rechercher : ; Rechercher : ; Rechercher : ; Rechercher : 1; Rechercher :
Affiliation
  1. Conseil national de recherches du Canada. Institut des sciences des microstructures du CNRC
FormatTexte, Article
ConférenceInternational Workshop on Semiconductor Characterization: Present Status and Future Needs, January 30 - February 2, 1995, Gaithersburg, MD, USA
Date de publication
Dans
Langueanglais
Numéro NPARC12338602
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Identificateur de l’enregistrementebd36747-09ad-4a3c-bb5a-ac0319a55d37
Enregistrement créé2009-09-10
Enregistrement modifié2020-03-20
Date de modification :