A Stereo Vision System for On-Machine Dimensional Metrology
A Stereo Vision System for On-Machine Dimensional Metrology
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|---|---|
| Format | Texte, Article |
| Conférence | SPIE Proceedings, Applications of Artificial Intelligence VII, March 28-30, 1989., Orlando, Florida, USA |
| Date de publication | 1989 |
| Langue | anglais |
| Numéro du CNRC | NRCC 30105 |
| Numéro NPARC | 5765189 |
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| Identificateur de l’enregistrement | d686df5a-3b69-4689-a79d-45e4454b63f2 |
| Enregistrement créé | 2009-03-29 |
| Enregistrement modifié | 2020-03-17 |
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