| DOI | Trouver le DOI : https://doi.org/10.1109/ECOC.2010.5621130 |
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| Auteur | Rechercher : Corcoran, B.; Rechercher : Vo, T. D.; Rechercher : Pelusi, M.; Rechercher : Monat, C.; Rechercher : Xu, D-X.1; Rechercher : Densmore, A.1; Rechercher : Ma, R.1; Rechercher : Janz, S.1; Rechercher : Moss, D. J.; Rechercher : Eggleton, B. J. |
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| Affiliation | - Conseil national de recherches du Canada. Institut des matériaux industriels du CNRC
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| Format | Texte, Article |
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| Conférence | 2010 36th European Conference and Exhibition on Optical Communication, ECOC 2010, September 19-23, 2010, Torino, Italy |
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| Résumé | We demonstrate a silicon nanowire based radio frequency spectrum analyser based on cross-phase modulation. We show that the device is accurate, with cross-chirp from photogenerated free-carriers negligible and measure RF spectra for 640Gbaud on-off-keyed data. |
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| Date de publication | 2010-09 |
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| Maison d’édition | IEEE |
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| Dans | |
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| Langue | anglais |
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| Publications évaluées par des pairs | Oui |
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| Numéro NPARC | 23002572 |
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| Exporter la notice | Exporter en format RIS |
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| Identificateur de l’enregistrement | ce6f1fe6-c39c-4e7e-bb13-378a95187667 |
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| Enregistrement créé | 2017-11-30 |
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| Enregistrement modifié | 2020-04-17 |
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