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Temperature measurement in a tem using electron diffraction of amorphous films

Par Conseil national de recherches du Canada

DOITrouver le DOI : https://doi.org/10.1017/S1431927617005414
AuteurRechercher : 1; Rechercher : 1; Rechercher : 1
Affiliation
  1. Conseil national de recherches du Canada. Institut national de nanotechnologie
FormatTexte, Article
Date de publication
Maison d’éditionCambridge University Press
Dans
  • Microscopy and Microanalysis 23, nº S1 : 950–951.
Langueanglais
Publications évaluées par des pairsOui
Numéro NPARC23002379
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Identificateur de l’enregistrementc8eb11b0-c441-4ec1-815d-5f04eef3cacf
Enregistrement créé2017-10-25
Enregistrement modifié2020-03-16
Date de modification :