| Autre titre | IEEE Int’l Electron Device Meeting Technical Digest |
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| Auteur | Rechercher : Chin, A.; Rechercher : Chan, K.; Rechercher : Wang, C.; Rechercher : Chen, C.; Rechercher : Liang, V.; Rechercher : Chen, J.; Rechercher : Chien, S.; Rechercher : Sun, S.; Rechercher : Duh, D.; Rechercher : Lin, W.; Rechercher : Zhu, C.; Rechercher : Li, M.; Rechercher : McAlister, Sean1; Rechercher : Kwong, D-L |
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| Affiliation | - Conseil national de recherches du Canada. Institut des sciences des microstructures du CNRC
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| Format | Texte, Article |
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| Conférence | IEEE Int’l Electron Device Meeting, 2003 |
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| Numéro NPARC | 3539221 |
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| Exporter la notice | Exporter en format RIS |
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| Identificateur de l’enregistrement | bb431d21-f8a3-44c2-9656-11baec684532 |
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| Enregistrement créé | 2009-03-01 |
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| Enregistrement modifié | 2020-04-16 |
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