RF passive devices on Si with excellent performance, close to ideal devices designed by electro-magnetic simulation

Autre titre	IEEE Int’l Electron Device Meeting Technical Digest
Auteur	Rechercher : Chin, A.; Rechercher : Chan, K.; Rechercher : Wang, C.; Rechercher : Chen, C.; Rechercher : Liang, V.; Rechercher : Chen, J.; Rechercher : Chien, S.; Rechercher : Sun, S.; Rechercher : Duh, D.; Rechercher : Lin, W.; Rechercher : Zhu, C.; Rechercher : Li, M.; Rechercher : McAlister, Sean¹; Rechercher : Kwong, D-L
Affiliation	Conseil national de recherches Canada. Institut des sciences des microstructures du CNRC
Format	Texte, Article
Conférence	IEEE Int’l Electron Device Meeting, 2003
Numéro NPARC	3539221
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Identificateur de l’enregistrement	bb431d21-f8a3-44c2-9656-11baec684532
Enregistrement créé	2009-03-01
Enregistrement modifié	2020-04-16

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