Resolving and tuning carrier capture rates at a single silicon atom gap state

Par Conseil national de recherches du Canada

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DOITrouver le DOI : https://doi.org/10.1021/acsnano.7b07068
AuteurRechercher : 1; Rechercher : ; Rechercher : ; Rechercher : ; Rechercher : ; Rechercher : ; Rechercher : 1
Affiliation
  1. Conseil national de recherches du Canada. Nanotechnologie
FormatTexte, Article
Sujetcarrier-capture rates; dangling bonds; noncontact atomic force microscopy; silicon; time-resolved scanning tunneling microscopy
Résumé
Date de publication
Maison d’éditionACS
Dans
Langueanglais
Publications évaluées par des pairsOui
Numéro NPARC23002433
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Identificateur de l’enregistrementb681fbd1-f23a-452f-b3de-d297f86471a9
Enregistrement créé2017-11-10
Enregistrement modifié2020-05-30
Date de modification :