Characterization of fast neutron irradiated GaAs films by photoluminescence spectroscopy
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|---|---|
| Format | Texte, Article |
| Conférence | Shallow impurities in semiconductors : proceedings of the Fourth International Conference on Shallow Impurities in Semiconductors, July 31-August 2, 1990, London, England |
| ISSN | 0255-5476 |
| ISBN | 087849619X |
| Langue | anglais |
| Numéro du CNRC | NRC-INMS-1146 |
| Numéro NPARC | 5765711 |
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| Identificateur de l’enregistrement | 95315903-da34-4ff0-855b-35e76d7843c1 |
| Enregistrement créé | 2009-03-29 |
| Enregistrement modifié | 2020-04-16 |
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