Characterization of fast neutron irradiated GaAs films by photoluminescence spectroscopy
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Format | Texte, Article |
Conférence | Shallow impurities in semiconductors : proceedings of the Fourth International Conference on Shallow Impurities in Semiconductors, July 31-August 2, 1990, London, England |
ISSN | 0255-5476 |
ISBN | 087849619X |
Langue | anglais |
Numéro du CNRC | NRC-INMS-1146 |
Numéro NPARC | 5765711 |
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Identificateur de l’enregistrement | 95315903-da34-4ff0-855b-35e76d7843c1 |
Enregistrement créé | 2009-03-29 |
Enregistrement modifié | 2020-04-16 |
- Date de modification :