| Téléchargement | - Voir la version finale : The linewidth broadening factor: a length-scale-dependent analytical approach (PDF, 702 Kio)
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| DOI | Trouver le DOI : https://doi.org/10.11648/j.nano.20170501.11 |
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| Auteur | Rechercher : Benhsaien, Abdessamad; Rechercher : Lu, Zhenguo1; Rechercher : Hinzer, Karin; Rechercher : Hall, Trevor James |
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| Affiliation | - Conseil national de recherches du Canada. Électronique et photonique avancées
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| Format | Texte, Article |
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| Sujet | α–factor; linewidth; enhancement; scattering; spontaneous emission; exciton; mesoscopic; quantum dot |
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| Résumé | A first-order frequency-dependent formula of the linewidth broadening factor (α–factor) is derived in terms of scattering rates whilst, a mesoscopic disk approach is used in order to accompany the dimension effect to the spontaneous emission lifetime (inverse of scattering rate). An excitonic correction to the relaxation properties is shown to occur provided the binding energy of the electron and hole is comparable to their eigenenergy-separation. The ensuing analysis is independent of the selected III-V material system and resides upon three simplifying assumptions which allow for analytical formulae to be derived. |
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| Date de publication | 2017-04-17 |
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| Maison d’édition | Science Publishing Group |
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| Dans | |
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| Langue | anglais |
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| Publications évaluées par des pairs | Oui |
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| Numéro NPARC | 23002467 |
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| Exporter la notice | Exporter en format RIS |
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| Identificateur de l’enregistrement | 80ed0a00-3c4e-4b50-ba64-abbeff96a538 |
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| Enregistrement créé | 2017-11-14 |
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| Enregistrement modifié | 2020-05-30 |
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