Charging of carbon thin films in scanning and phase-plate transmission electron microscopy

Par Conseil national de recherches du Canada

DOITrouver le DOI : https://doi.org/10.1016/j.ultramic.2017.09.009
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Affiliation
  1. Conseil national de recherches du Canada. Nanotechnologie
FormatTexte, Article
Sujetscanning transmission electron microscopy; transmission electron microscopy; electron-beam induced charging; thin film; phase plate; radiation damage; hole-free phase plate; volta phase plate
Résumé
Date de publication
Maison d’éditionElsevier
Dans
Langueanglais
Publications évaluées par des pairsOui
Numéro NPARC23002641
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Identificateur de l’enregistrement60bf43bb-8525-4626-98a4-d8506d30fe51
Enregistrement créé2017-12-08
Enregistrement modifié2020-03-16
Date de modification :