| DOI | Trouver le DOI : https://doi.org/10.1051/matecconf/20130802004 |
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| Auteur | Rechercher : Mercadier, L.1; Rechercher : Peng, J.1; Rechercher : Sultan, Y.; Rechercher : Davis, T.; Rechercher : Rayner, D.M.1; Rechercher : Corkum, P.B.1 |
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| Affiliation | - Conseil national de recherches du Canada. Technologies de sécurité et de rupture
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| Format | Texte, Article |
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| Conférence | Workshop on Progress in Ultrafast Laser Modifications of Materials, 2013, 14 April 2013 through 19 April 2013, Cargese |
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| Sujet | Atomic force microscopy; Polymer films; Semiconducting films; Ultrashort pulses; Beam geometry; Dielectric surface; Thin polymer films; Two ways; Ultrafast lasers |
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| Résumé | We desorb polymer films from fused silica with a femtosecond laser and characterize the results by atomic force microscopy. Our study as a function of beam geometry and energy reveals two ways of achieving spatially controlled nanodesorption. © Owned by the authors, published by EDP Sciences, 2013. |
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| Date de publication | 2013 |
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| Dans | |
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| Langue | anglais |
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| Publications évaluées par des pairs | Oui |
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| Numéro NPARC | 21276253 |
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| Identificateur de l’enregistrement | 431c2f5d-db1a-43b8-9047-d755957db1c2 |
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| Enregistrement créé | 2015-09-28 |
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| Enregistrement modifié | 2020-04-22 |
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