Quantum metrology with photoelectrons, volume 3: analysis methodologies

DOITrouver le DOI : https://doi.org/10.1088/978-0-7503-5022-8
AuteurRechercher : 1; Rechercher :
Affiliation
  1. Conseil national de recherches Canada. Quantique et nanotechnologies
FormatTexte, Livre
ISBN978-0-7503-5022-8
978-0-7503-5020-4
Résumé
Date de publication
Maison d’éditionIOP Publishing
Langueanglais
Publications évaluées par des pairsOui
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Identificateur de l’enregistrement271b0337-8b4f-426f-b452-15f22f6ae138
Enregistrement créé2024-06-24
Enregistrement modifié2024-06-24

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