Ultrahigh Vacuum Scanning Electron/Tunnelling Combined Microscope System

Auteur	Rechercher : Homma, Y.; Rechercher : Finnie, Paul¹; Rechercher : Ogino, T.
Éditeur	Rechercher : Shimizu, R.; Rechercher : Williams, D.
Affiliation	Conseil national de recherches Canada. Institut des sciences des microstructures du CNRC
Format	Texte, Article
Conférence	Microbeam Analysis 2000, 2000, Bristol
Maison d’édition	Institute of Physics Publishing
Numéro NPARC	12346439
Exporter la notice	Exporter en format RIS
Signaler une correction	Signaler une correction (s'ouvre dans un nouvel onglet)
Identificateur de l’enregistrement	fb208f6c-2f8b-4215-b1d2-012d3f50fa2d
Enregistrement créé	2009-09-17
Enregistrement modifié	2020-04-16