| DOI | Trouver le DOI : https://doi.org/10.1103/PhysRevB.53.16524 |
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| Auteur | Rechercher : Marquezini, M.; Rechercher : Brasil, M.; Rechercher : Brum, J.; Rechercher : Poole, Philip1; Rechercher : Charbonneau, Sylvain1; Rechercher : Tamargo, M. |
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| Affiliation | - Conseil national de recherches Canada. Institut des sciences des microstructures du CNRC
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| Format | Texte, Article |
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| Résumé | We present a study on the exciton dynamics in a thin quantum well grown with self-assembled islands with thicknesses ranging from 1 to 5 ML. The exciton dynamics is investigated by combinining continuous-wave and time-resolved photoluminescence measurements as a function of temperature. We analyze the exciton dynamics through a system of rate equations and we are able to obtain quantitative information on the exciton localization at the interface roughness. � 1996 The American Physical Society. |
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| Date de publication | 1996-06-15 |
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| Dans | |
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| Langue | anglais |
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| Publications évaluées par des pairs | Oui |
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| Numéro NPARC | 12327291 |
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| Identificateur de l’enregistrement | f9a44cde-e1ae-4f46-a4db-1372b4ce5063 |
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| Enregistrement créé | 2009-09-10 |
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| Enregistrement modifié | 2020-03-20 |
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