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Phase plates in the transmission electron microscope: operating principles and applications

Par Conseil national de recherches du Canada

DOITrouver le DOI : https://doi.org/10.1093/jmicro/dfaa070
AuteurRechercher : 1Identifiant ORCID : https://orcid.org/0000-0001-7907-3867; Rechercher : ; Rechercher : 1; Rechercher : ; Rechercher : ; Rechercher :
Affiliation
  1. Conseil national de recherches du Canada. Nanotechnologie
FormatTexte, Article
Sujethole-free phase plate (HFPP); Volta plase plate (VPP); radiation damage; electron beam-induced sample charging; sample contamination; cryo electron microscopy
Résumé
In this paper, we review the current state of phase plate imaging in a transmission electron microscope. We focus especially on the hole-free phase plate design, also referred to as the Volta phase plate. We discuss the implementation, operating principles and applications of phase plate imaging. We provide an imaging theory that accounts for inelastic scattering in both the sample and in the hole-free phase plate.
Date de publication
Maison d’éditionOxford University Press
Japanese Society of Microscopy
Dans
  • Microscopy 70, nº 1 : 75–115.
Langueanglais
Publications évaluées par des pairsOui
Numéro du CNRCNRC-NANO-092
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Identificateur de l’enregistrementf20986c3-c487-4381-b84a-de1df852a8f2
Enregistrement créé2021-02-23
Enregistrement modifié2021-02-23
Date de modification :