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Two-Dimensional Profiling of Carriers in a Buried Heterostructure Multi-Quantum-Well Laser: Calibrated Scanning Spreading Resistance Microscopy and Scanning Capacitance Microscopy

Par Conseil national de recherches du Canada

DOITrouver le DOI : https://doi.org/10.1116/1.1511211
AuteurRechercher : ; Rechercher : ; Rechercher : ; Rechercher : ; Rechercher : ; Rechercher : 1; Rechercher : 1; Rechercher : ; Rechercher :
Affiliation
  1. Conseil national de recherches Canada. Institut des sciences des microstructures du CNRC
FormatTexte, Article
Date de publication
Dans
  • Journal of Vacuum Science & Technology B 20, nº 5 (2002) : 2126–2132.
Numéro NPARC12744803
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Identificateur de l’enregistremente95e92d8-5414-4ad9-b986-93c894e2bcca
Enregistrement créé2009-10-27
Enregistrement modifié2020-03-30
Date de modification :