Stress induced birefringence in silicon-on-insulator SOI waveguides

AuteurRechercher : ; Rechercher : ; Rechercher : 1; Rechercher : 1Identifiant ORCID : https://orcid.org/0000-0003-4232-9130; Rechercher : 1; Rechercher : ; Rechercher :
Affiliation
  1. Conseil national de recherches Canada. Institut des sciences des microstructures du CNRC
FormatTexte, Article
Maison d’éditionSPIE
Dans
Numéro NPARC12346742
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Identificateur de l’enregistremente2a01e75-3139-41d9-9055-5e42ed646957
Enregistrement créé2009-09-17
Enregistrement modifié2020-04-16

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