XAFS and X-ray Reflectivity Study of III-V Compound Native Oxide/GaAs Interfaces
XAFS and X-ray Reflectivity Study of III-V Compound Native Oxide/GaAs Interfaces
| DOI | Trouver le DOI : https://doi.org/10.1107/S0909049501001248 |
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| Format | Texte, Article |
| Date de publication | 2001 |
| Dans | |
| Numéro NPARC | 12743780 |
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| Identificateur de l’enregistrement | e223db3c-af86-4bec-bb83-606a8e4af928 |
| Enregistrement créé | 2009-10-27 |
| Enregistrement modifié | 2020-03-27 |
- Date de modification :