MWCNTs as a mass-thickness calibration sample for TEM
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| Affiliation |
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| Format | Texte, Article |
| Conférence | 75th annual meeting of the Japanese Society of Microscopy, June 17–19, 2019, Nagoya, Japan |
| Date de publication | v. 2019-06-19 |
| Maison d’édition | Japanese Society of Microscopy |
| Dans | |
| Langue | anglais |
| Publications évaluées par des pairs | Oui |
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| Identificateur de l’enregistrement | d4723545-5d04-4134-985a-3d15856fd31c |
| Enregistrement créé | 2021-08-25 |
| Enregistrement modifié | 2021-08-25 |
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