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Step dynamics on growing silicon surfaces observed by ultrahigh vacuum scanning electron microscopy

Par Conseil national de recherches du Canada

DOITrouver le DOI : https://doi.org/10.1016/S0022-0248(01)01844-9
AuteurRechercher : ; Rechercher : 1
Affiliation
  1. Conseil national de recherches Canada. Institut des sciences des microstructures du CNRC
FormatTexte, Article
Date de publication
Dans
  • Journal of Crystal Growth 237-239 (2002) : 28–34.
Numéro NPARC12744509
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Identificateur de l’enregistrementc916a075-223b-4d55-8935-4f5cce6e4060
Enregistrement créé2009-10-27
Enregistrement modifié2020-03-30
Date de modification :