ADF-STEM imaging of strained GaN0045As0955 epitaxial layers on 100 GaAs substrates

Auteur	Rechercher : Wu, X.; Rechercher : Robertson, M.; Rechercher : Gupta, J.; Rechercher : Baribeau, J-M; Rechercher : Bennett, J.; Rechercher : Kawasaki, M.; Rechercher : Aoki, T.
Format	Texte, Article
Conférence	Mater Res Soc Sym
Numéro NPARC	12346425
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Identificateur de l’enregistrement	c0eb470e-78b9-44e3-8a1e-c791c9c6c7f4
Enregistrement créé	2009-09-17
Enregistrement modifié	2020-04-16

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