Anomaly detection using 1D convolutional neural networks for surface enhanced Raman scattering

DOITrouver le DOI : https://doi.org/10.1117/12.2576447
AuteurRechercher : 1; Rechercher : 1
ÉditeurRechercher : Valenta, Christopher R.; Rechercher : Shaw, Joseph A.; Rechercher : Kimata, Masafumi
Affiliation
  1. Conseil national de recherches Canada. Centre de recherche en métrologie
FormatTexte, Article
ConférenceSPIE Future Sensing Technologies, November 9-13, 2020, Online Only
Sujetsurface-enhanced Raman scattering; convolutional neural networks; raman spectroscopy; anomaly detection; one-class classification; deep learning; pattern recognition
Résumé
Date de publication
Maison d’éditionSPIE
Dans
Série
Langueanglais
Publications évaluées par des pairsOui
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Identificateur de l’enregistrementbdd4f5e8-f157-4b17-820b-354e2187097c
Enregistrement créé2021-12-17
Enregistrement modifié2021-12-20

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