Electrical Characterization and Surface Morphology of Optimized Ti/Al/Ti/Au Ohmic Contacts for AlGaN/GaN HEMTs
Electrical Characterization and Surface Morphology of Optimized Ti/Al/Ti/Au Ohmic Contacts for AlGaN/GaN HEMTs
| DOI | Trouver le DOI : https://doi.org/10.1149/1.2206998 |
|---|---|
| Auteur | Rechercher : 1; Rechercher : 1; Rechercher : 1; Rechercher : |
| Affiliation |
|
| Format | Texte, Article |
| Date de publication | 2006 |
| Dans | |
| Numéro NPARC | 12744706 |
| Exporter la notice | Exporter en format RIS |
| Signaler une correction | Signaler une correction (s'ouvre dans un nouvel onglet) |
| Identificateur de l’enregistrement | b804ce82-6f77-4019-b809-be6ca2856bfe |
| Enregistrement créé | 2009-10-27 |
| Enregistrement modifié | 2020-04-22 |
Détails de la page
Par :
- Date de modification :