Hitachi HF-3300 TEM / STEM at NRC-NANO: an advanced electron microscopy platform for practical application development in nanotechnology
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| Affiliation |
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| Format | Texte, Allocution |
| Conférence | Meeting of the Korean Society of Microscopy, June 20 – 22, 2018, Jeju, Korea |
| Date de publication | 2018-06 |
| Maison d’édition | Korean Society of Microscopy |
| Langue | anglais |
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| Identificateur de l’enregistrement | b6523eb2-3025-4beb-925c-04e40b06a60d |
| Enregistrement créé | 2021-08-27 |
| Enregistrement modifié | 2021-08-27 |
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