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Progress toward quantitative hole-free phase plate imaging in a TEM

Par Conseil national de recherches du Canada

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Affiliation
  1. Conseil national de recherches du Canada. Nanotechnologie
FormatTexte, Affiche
ConférenceIMC 2018, 19th International Microscopy Congress, September 9 – 14, 2018, Sydney, Australia
Date de publication
Maison d’éditionInternational Microscopy Congress
NoteElectronic poster. ID #101
Langueanglais
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Identificateur de l’enregistrementb1818e40-c585-442f-a5b9-579a2dd4bcb8
Enregistrement créé2021-08-27
Enregistrement modifié2021-08-27
Date de modification :