| DOI | Trouver le DOI : https://doi.org/10.1017/S1431927614004863 |
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| Auteur | Rechercher : Malac, Marek1; Rechercher : Kimoto, Koji; Rechercher : Egerton, Ray1; Rechercher : Shekhar, Prashant; Rechercher : Jacob, Zubin; Rechercher : Taniguchi, Yoshifumi; Rechercher : Gaind, Vaibhav |
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| Affiliation | - Conseil national de recherches Canada
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| Format | Texte, Article |
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| Conférence | Microscopy & Microanalysis 2014, August 3-7, 2014, Hartford, Connecticut, United States |
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| Résumé | Electron energy loss spectroscopy (EELS) in a TEM can measure the optical response of individual nanostructures at high spatial resolution [1] and obtain structure and morphology of the individual nanostructures. Here we show that high quality valence EELS (VEELS) can be acquired and interpreted to well below 2 eV in an instrument equipped with a cold field emission gun (CFEG) and a standard Gatan Image Filter (GIF) TridiemTM. We provide interpretation of the main spectral feature in the momentum-resolved EELS (qEELS) spectrum. |
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| Date de publication | 2014-08-27 |
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| Maison d’édition | Cambridge University Press |
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| Langue | anglais |
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| Publications évaluées par des pairs | Oui |
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| Identificateur de l’enregistrement | b06b4cce-70fb-4888-8feb-91b099aa6269 |
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| Enregistrement créé | 2020-02-29 |
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| Enregistrement modifié | 2024-05-15 |
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