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A high resolution analytical transmission electron microscope optimized for quantitative characterization of radiation sensitive materials

Par Conseil national de recherches du Canada

AuteurRechercher : 1; Rechercher : ; Rechercher : 1; Rechercher : ; Rechercher :
Affiliation
  1. Conseil national de recherches Canada. Nanotechnologie
FormatTexte, Article
Date de publication
Dans
  • Hitachi Electron Microscopy News Fall (2007).
Langueanglais
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Identificateur de l’enregistrementad09a535-60e1-481c-bff6-d08725a1b141
Enregistrement créé2021-09-20
Enregistrement modifié2021-09-20
Date de modification :