Surface relaxations, current enhancements, and absolute distances in high resolution scanning tunneling microscopy

DOI	Trouver le DOI : https://doi.org/10.1103/PhysRevLett.87.236104
Auteur	Rechercher : Hofer, W.A.; Rechercher : Fisher, A.J.; Rechercher : Wolkow, R. A.¹; Rechercher : Grutter, P.
Affiliation	Conseil national de recherches Canada. Institut Steacie des sciences moléculaires du CNRC
Format	Texte, Article
Résumé	We have performed the most realistic simulation to date of the operation of a scanning tunneling microscope. Probe-sample distances from beyond tunneling to actual surface contact are covered. We simultaneously calculate forces, atomic displacements, and tunneling currents, allowing quantitative comparison with experimental values. A distance regime below which the probe becomes unstable is identified. It is shown that the real distance differs substantially from previous estimates because of large atomic displacements on the surface and at the probe tip.
Date de publication	2001-12
Dans	Physical Review Letters 87, nº 23 (décembre 2001) : 236104-1–236104-4.
Langue	anglais
Publication du CNRC	Cette publication n’est pas du CNRC Ce sont des publications qui ont été rédigées par un auteur du CNRC, mais avant que celui-ci soit employé du CNRC.
Numéro NPARC	12339030
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Identificateur de l’enregistrement	883598e5-d34c-4c2f-b4d4-f0cdb30bd102
Enregistrement créé	2009-09-11
Enregistrement modifié	2020-03-27

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