Simulation and measurement of the self-heating in GaN HFETs
Simulation and measurement of the self-heating in GaN HFETs
| DOI | Trouver le DOI : https://doi.org/10.1002/pssc.200674252 |
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| Affiliation |
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| Format | Texte, Article |
| Date de publication | 2007 |
| Maison d’édition | Wiley |
| Dans | |
| Langue | anglais |
| Publications évaluées par des pairs | Oui |
| Numéro NPARC | 12743873 |
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| Identificateur de l’enregistrement | 85559cec-3da4-497a-be62-9bb95f1f1d2a |
| Enregistrement créé | 2009-10-27 |
| Enregistrement modifié | 2020-05-10 |
- Date de modification :