Determining strain, chemical composition, and thermal properties of Si/SiGe nanostructures via raman scattering spectroscopy
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DOI | Trouver le DOI : https://doi.org/10.1149/osf.io/68puc |
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Affiliation |
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Format | Texte, Article |
Description physique | 15 p. |
Résumé | |
Date de publication | 2018-09 |
Maison d’édition | ECSarXiv |
Dans | |
Langue | anglais |
Publications évaluées par des pairs | Non |
Numéro NPARC | 23004216 |
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Identificateur de l’enregistrement | 76071b9f-bc78-477a-9036-2852a33a9f28 |
Enregistrement créé | 2018-10-12 |
Enregistrement modifié | 2020-05-30 |
- Date de modification :