X-ray and electrical characterization of optimized Ti/Al/Ti/Au ohmic contacts for AlGaN/GaN HEMTs
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| Affiliation |
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| Format | Texte, Article |
| Conférence | 208th ECS Meeting, 16-21 October 2005, Los Angeles, California |
| Date de publication | 2005 |
| Dans | |
| Langue | anglais |
| Publications évaluées par des pairs | Oui |
| Numéro NPARC | 12346239 |
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| Identificateur de l’enregistrement | 60ce5016-953e-4bd5-9f91-9ece89e47a80 |
| Enregistrement créé | 2009-09-17 |
| Enregistrement modifié | 2020-04-07 |
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