Recent developments in optical gauge block metrology
Recent developments in optical gauge block metrology
Éditeur | Rechercher : Decker, Jennifer E.1; Rechercher : Brown, Nicholas1 |
---|---|
Affiliation |
|
Commanditaire | Rechercher : SPIE |
Format | Texte, Livre |
Conférence | SPIE's International Symposium On Optical Science, Engineering, And Instrumentation, July 20-21, 1998, San Diego, California, USA |
ISBN | 0819429325 |
Description physique | 308 p. |
Date de publication | 1998-07-24 |
Maison d’édition | SPIE |
Série | |
Langue | anglais |
Numéro du CNRC | NRC-INMS-745 |
Numéro NPARC | 5763745 |
Exporter la notice | Exporter en format RIS |
Signaler une correction | Signaler une correction (s'ouvre dans un nouvel onglet) |
Identificateur de l’enregistrement | 5cc26957-60bf-4cba-829b-cf7a06a27c7e |
Enregistrement créé | 2009-03-29 |
Enregistrement modifié | 2020-07-06 |
- Date de modification :