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Simultaneous laser beam profiling and scaling using Diffraction Edge Waves (DEW)

Par Conseil national de recherches du Canada

DOITrouver le DOI : https://doi.org/10.1117/12.938632
AuteurRechercher : 1; Rechercher :
Affiliation
  1. Conseil national de recherches Canada
FormatTexte, Article
Conférence1986 Quebec Symposium (Optical Testing and Metrology), June 3-6, 1986, Quebec City, Canada
Résumé
A simple method of laser beam profiling using a scanning knife-edge is presented. Instead of monitoring the nonobstructed part of the beam as is usually done, the photo-detector is placed completely outside the beam and measures the light intensity of the DEW. Thus the spatial profile of very small Gaussian beams is obtained directly on an oscilloscope without any inversion procedure. By using the DEW emitted by another beam focused through a grating it is also possible to get a spatial calibration scale.
Date de publication
Maison d’éditionSPIE
Dans
  • Optical Testing and Metrology : 315–321.
Série
  • Proceedings of SPIE, nº 0661.
Langueanglais
Publications évaluées par des pairsOui
Numéro du CNRCNRCC 25834
NRC-IGM 86-000-302
Numéro NPARC23004042
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Identificateur de l’enregistrement5be59e2b-16b2-4d09-9e12-095fcedcb55b
Enregistrement créé2018-09-19
Enregistrement modifié2020-03-17
Date de modification :