Confocal surface acoustic wave microscopy

DOI	Trouver le DOI : https://doi.org/10.1063/1.93958
Auteur	Rechercher : Smith, I. R.; Rechercher : Wickramasinghe, H. K.; Rechercher : Farnell, G. W.; Rechercher : Jen, C. K.
Format	Texte, Article
Résumé	When the scanning acoustic microscope is used in a defocussed mode to measure surface acoustic wave properties, circular surface wave fronts are generated on the specimen which propagate to a diffraction‐limited focus. Thus, high resolution surface wave images are simply formed and a wide range of established nondestructive testing techniques become available to the acoustic microscope. Images obtained in the reflection mode are presented which demonstrate the unexpectedly high spatial resolution.
Date de publication	1983-03-01
Maison d’édition	AIP
Dans	Applied Physics Letters 42, nº 5 : 411–413.
Langue	anglais
Publications évaluées par des pairs	Oui
Publication du CNRC	Cette publication n’est pas du CNRC Ce sont des publications qui ont été rédigées par un auteur du CNRC, mais avant que celui-ci soit employé du CNRC.
Numéro du CNRC	CNRC 20827 NRC-IGM82-214-032
Numéro NPARC	23004694
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Identificateur de l’enregistrement	572de004-c50b-4f8d-8fee-3791521d76ed
Enregistrement créé	2018-12-11
Enregistrement modifié	2020-03-13

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