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Calibration specimens for light-element EDX analysis

AuteurRechercher : 1; Rechercher : 1
Affiliation
  1. Conseil national de recherches Canada. Institut national de nanotechnologie
FormatTexte, Article
Conférence14th International Congress on Electron Microscopy (ICEM 14), Cancun, Mexico, August 31 - September 4, 1998
Date de publication
Dans
  • Electron Microscopy 1998 : Proceedings of the 14th International Congress on Electron Microscopy 3 (1998) : 569–570.
Numéro NPARC12328377
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Identificateur de l’enregistrement4eaf2519-936e-41f3-b0e8-3b894a982aea
Enregistrement créé2009-09-10
Enregistrement modifié2020-03-20

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