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EELS in the TEM

DOITrouver le DOI : https://doi.org/10.1016/j.elspec.2003.12.009
AuteurRechercher : ; Rechercher :
FormatTexte, Article
SujetEELS; ELNES; radiation damage; spectrometers; TEM
Résumé
This review deals with the spectroscopy of the electrons that have passed through a thin sample in a transmission electron microscope. Many of these electrons undergo inelastic scattering and their energy loss provides information about the chemical and structural properties of the specimen. The instrumentation required for EELS and energy-filtered imaging is described, together with the features found in a typical energy-loss spectrum. Examples are given of practical applications of plasmon-loss and core-loss spectroscopy, as well as energy-filtered imaging. Finally, EELS is compared with other spectroscopic techniques in terms of range of application, sensitivity, spatial resolution and radiation damage.
Date de publication
Dans
  • Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena 143, nº 2-3 : 43–50.
Langueanglais
Publications évaluées par des pairsOui
Publication du CNRC
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Numéro NPARC12338539
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Identificateur de l’enregistrement4b07df07-4b37-492a-aeee-cbdd2bd35e92
Enregistrement créé2009-09-10
Enregistrement modifié2020-04-17

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