Cracking phenomena in In(0.25)Ga(0.75)AS films on InP substrates

Par Conseil national de recherches du Canada

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DOITrouver le DOI : https://doi.org/10.1016/S1359-6454(99)00211-6
AuteurRechercher : ; Rechercher :
FormatTexte, Article
Sujetanalytical electron microscopy; compound semiconductors; fracture
Résumé
Date de publication
Dans
Langueanglais
Publication du CNRC
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Numéro NPARC21276883
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Identificateur de l’enregistrement4a3e57b6-0160-41c0-beae-b1c4d1b230b8
Enregistrement créé2015-10-30
Enregistrement modifié2020-06-04
Date de modification :