Scattering lifetimes due to interface roughness with large lateral correlation length in a Al1-xGaxN/GaN two-dimensional electron gas
Scattering lifetimes due to interface roughness with large lateral correlation length in a Al1-xGaxN/GaN two-dimensional electron gas
| DOI | Trouver le DOI : https://doi.org/10.1103/PhysRevB.66.245305 |
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| Affiliation |
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| Format | Texte, Article |
| Date de publication | 2002 |
| Dans | |
| Langue | anglais |
| Publications évaluées par des pairs | Oui |
| Numéro NPARC | 12327945 |
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| Identificateur de l’enregistrement | 49c5cd04-bebb-4821-a90f-49e4ccb0bc2a |
| Enregistrement créé | 2009-09-10 |
| Enregistrement modifié | 2020-04-06 |
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