Hole free phase plate tomography for materials sciences samples

Par Conseil national de recherches du Canada

DOITrouver le DOI : https://doi.org/10.1016/j.micron.2018.09.005
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Affiliation du nom
  1. Conseil national de recherches Canada. Nanotechnologie
FormatTexte
TypeArticle
Titre de la revueMicron
ISSN0968-4328
SujetHole Free Phase Plate (HFPP); electron tomography; transistor Imaging; molecular electronic junction; interface roughness; Transmission electron microscope (TEM)
Résumé
Date de publication
Maison d’éditionElsevier
Langueanglais
Publications évaluées par des pairsOui
Numéro NPARC23004075
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Identificateur de l’enregistrement470fa7e1-607b-48ee-bc92-a7ddd422ffc6
Enregistrement créé2018-09-25
Enregistrement modifié2018-09-25
Date de modification :