| DOI | Trouver le DOI : https://doi.org/10.1002/1096-9918(200008)30:1<207::AID-SIA816>3.0.CO;2-5 |
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| Auteur | Rechercher : Bensebaa, Farid1; Rechercher : Kotlyar, Luba1; Rechercher : Pleizier, Gerald1; Rechercher : Sparks, Bryan1; Rechercher : Deslandes, Yves1; Rechercher : Chung, Keng |
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| Affiliation | - Conseil national de recherches Canada. Institut de technologie des procédés chimiques et de l'environnement du CNRC
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| Format | Texte, Article |
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| Sujet | bitumen; end cut; surface; XPS; ToF-SIMS; FTIR |
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| Résumé | Bitumen components, responsible for various processing problems, were analysed with x-ray photoelectron spectroscopy (XPS), time-of-flight secondary ion mass spectrometry (ToF-SIMS) and photoacoustic Fourier transform infrared spectrometry (PAS–FTIR). These methods were selected because they can probe surfaces to different depths: ToF-SIMS explores the surface to a depth of ~1 nm; XPS analyses a surface layer 7 nm deep; and PAS–FTIR probes layers several micrometres thick. |
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| Date de publication | 2000-09-05 |
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| Maison d’édition | Wiley |
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| Dans | |
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| Langue | anglais |
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| Publications évaluées par des pairs | Oui |
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| Numéro du CNRC | NRCC 51877 |
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| Numéro NPARC | 13063727 |
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| Exporter la notice | Exporter en format RIS |
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| Identificateur de l’enregistrement | 465d9a4c-2ed8-41ed-b3b0-12585e80eb1d |
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| Enregistrement créé | 2009-12-03 |
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| Enregistrement modifié | 2022-03-10 |
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