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Scanning tunneling microscopy images of IIIV semiconductor alloys: strain effects

Par Conseil national de recherches du Canada

DOITrouver le DOI : https://doi.org/10.1116/1.1529651
AuteurRechercher : ; Rechercher : ; Rechercher : ; Rechercher : 1
Affiliation
  1. Conseil national de recherches Canada. Institut des sciences des microstructures du CNRC
FormatTexte, Article
Date de publication
Dans
  • Journal of Vacuum Science & Technology B 21, nº 1 (2003) : 18–22.
Numéro NPARC12744628
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Identificateur de l’enregistrement42ca7a48-84ae-449f-bdf0-b8382f3bc569
Enregistrement créé2009-10-27
Enregistrement modifié2020-04-02
Date de modification :