| Téléchargement | - Voir le manuscrit accepté : Transmission electron microscopy investigation of interfacial reactions between SrFeO3 thin films and silicon substrates (PDF, 7.7 Mio)
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| DOI | Trouver le DOI : https://doi.org/10.1557/JMR.2007.0005 |
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| Auteur | Rechercher : Wang, Dashan; Rechercher : Tunney, Jim1; Rechercher : Du, Xiaomei1; Rechercher : Post, Michael1; Rechercher : Gauvin, Raynald |
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| Affiliation | - Conseil national de recherches Canada. Institut de technologie des procédés chimiques et de l'environnement du CNRC
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| Format | Texte, Article |
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| Sujet | interfacial reactions; thin films; silicon substrates; pulsed laser deposition |
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| Date de publication | 2007 |
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| Condition d’accès | |
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| Dans | |
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| Langue | anglais |
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| Publications évaluées par des pairs | Oui |
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| Numéro du CNRC | NRCC 51693 |
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| Numéro NPARC | 9073357 |
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| Exporter la notice | Exporter en format RIS |
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| Identificateur de l’enregistrement | 428ecab3-f032-48c7-ba88-dba16b5b2765 |
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| Enregistrement créé | 2009-10-03 |
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| Enregistrement modifié | 2020-05-10 |
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