New fabrication technique for highly sensitive qPlus sensor with well-defined spring constant

Par Conseil national de recherches du Canada

DOITrouver le DOI : https://doi.org/10.1016/j.ultramic.2015.06.008
AuteurRechercher : 1; Rechercher : 1; Rechercher : 1; Rechercher : 1; Rechercher : 1; Rechercher : 2; Rechercher : 1; Rechercher : 1
Affiliation
  1. Conseil national de recherches du Canada. Institut national de nanotechnologie
  2. Conseil national de recherches du Canada. Technologies de sécurité et de rupture
FormatTexte, Article
SujetChemical sensors; Focused ion beams; Image reconstruction; Quartz; Scanning probe microscopy; Springs (components); AFM; Atomic-resolution imaging; Fabrication technique; Field evaporation; High resonance frequency; Quartz tuning fork; Spring constants; Atomic force microscopy; silicon dioxide; tungsten; atomic force microscopy; electric conductivity; electric field; electrochemistry; evaporation; measurement accuracy; nanotechnology; qPlus sensor; quantitative analysis; sensitivity analysis; sensor; surface property
Résumé
Date de publication
Dans
Langueanglais
Publications évaluées par des pairsOui
Numéro NPARC21276995
Exporter la noticeExporter en format RIS
Signaler une correctionSignaler une correction (s'ouvre dans un nouvel onglet)
Identificateur de l’enregistrement409ecae4-a348-4073-9622-1996a567b2ad
Enregistrement créé2015-11-10
Enregistrement modifié2020-04-22
Date de modification :