Characterization of thin layered structures using deconvolution techniques in time-domain and Fourier-domain optical coherence tomography

Par Conseil national de recherches du Canada

DOITrouver le DOI : https://doi.org/10.1117/12.778745
AuteurRechercher : 1Identifiant ORCID : https://orcid.org/0000-0002-6150-1920; Rechercher : 1; Rechercher : 1Identifiant ORCID : https://orcid.org/0000-0002-9831-8273; Rechercher : 1; Rechercher : 1
ÉditeurRechercher : Armitage, John1
Affiliation
  1. Conseil national de recherches du Canada. Institut des matériaux industriels du CNRC
FormatTexte, Article
ConférencePhotonics North 2007, June 4-7, 2007, Ottawa, Ontario, Canada
Sujetoptical coherence tomography; deconvolution; electronic filtering; composites; reflectors; resolution enhancement technologies; Fourier transforms; glasses; optical filters; epoxies
Résumé
Date de publication
Maison d’éditionSPIE
Dans
Série
Langueanglais
Publications évaluées par des pairsOui
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Identificateur de l’enregistrement3e4a49a0-b593-4295-84de-30c84d3c97c6
Enregistrement créé2024-08-20
Enregistrement modifié2024-08-20
Date de modification :