Fatigue life prediction of a SAE keyhole specimen as a subcase of certification by analysis

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DOITrouver le DOI : https://doi.org/10.3390/ma17184521
AuteurRechercher : 1Identifiant ORCID : https://orcid.org/0000-0002-0250-112X; Rechercher : 1; Rechercher : 1
Affiliation
  1. Conseil national de recherches Canada. Aérospatiale
FormatTexte, Article
Sujetfatigue; keyhole specimen; structural integrity; life prediction; certification by analysis
Résumé
Date de publication
Maison d’éditionMPDI
Licence
Dans
Langueanglais
Publications évaluées par des pairsOui
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Identificateur de l’enregistrement28cdd5bd-23f5-49b6-bfe4-10971e5e32ea
Enregistrement créé2025-04-23
Enregistrement modifié2025-04-23

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