| Téléchargement | - Voir la version finale : Electron beam-induced effects on Bi6S2015 nanowires: an insight of stability and applications (PDF, 431 Kio)
|
|---|
| DOI | Trouver le DOI : https://doi.org/10.1017/S143192761900922X |
|---|
| Auteur | Rechercher : Qian, Hui1; Rechercher : Chen, Jian1 |
|---|
| Affiliation | - Conseil national de recherches Canada. Nanotechnologie
|
|---|
| Format | Texte, Résumé |
|---|
| Conférence | Microscopy and Microanalysis 2019, Aug 4-8, 2019, Portland, Oregon, USA |
|---|
| Date de publication | 2019-08-08 |
|---|
| Maison d’édition | Cambridge University Press |
|---|
| Dans | |
|---|
| Langue | anglais |
|---|
| Publications évaluées par des pairs | Oui |
|---|
| Exporter la notice | Exporter en format RIS |
|---|
| Signaler une correction | Signaler une correction (s'ouvre dans un nouvel onglet) |
|---|
| Identificateur de l’enregistrement | 20ae4741-16c1-4b94-83c8-f2566e98d993 |
|---|
| Enregistrement créé | 2019-08-08 |
|---|
| Enregistrement modifié | 2020-05-30 |
|---|
