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αRAM: an α particle detecting MOS IC for radon monitoring

Par Conseil national de recherches du Canada

DOITrouver le DOI : https://doi.org/10.1109/MNRC.2008.4683381
AuteurRechercher : ; Rechercher : ; Rechercher : ; Rechercher :
FormatTexte, Article
Conférence2008 1st Microsystems and Nanoelectronics Research Conference (MNRC 2008), October 15, 2008, Ottawa, ON, Canada
Résumé
A custom integrated circuit (“αRAM”) capable of detecting the α particles emitted in the decay of radon and its progeny has been designed, fabricated and successfully tested. The αRAM has been incorporated in a complete radon monitor using electrostatic concentration of radon progeny. The monitor can detect hazardous levels of radon within hours.
Date de publication
Maison d’éditionIEEE
Dans
  • 2008 1st Microsystems and Nanoelectronics Research Conference : 73–76.
Langueanglais
Publications évaluées par des pairsOui
Publication du CNRC
Cette publication n’est pas du CNRC

Ce sont des publications qui ont été rédigées par un auteur du CNRC, mais avant que celui-ci soit employé du CNRC.

Numéro NPARC23001039
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Identificateur de l’enregistrement20a740f7-344f-4255-9894-f849d1c8ccd8
Enregistrement créé2016-12-02
Enregistrement modifié2020-04-15
Date de modification :