| Téléchargement | - Voir le manuscrit accepté : Composition and strain contrast of Si1-xGex (x = 0.20) and Si1-yCy (y < 0.015) epitaxial strained films on (100) Si in annular dark field images (PDF, 1,8 Mio)
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| DOI | Trouver le DOI : https://doi.org/10.1063/1.3082019 |
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| Auteur | Rechercher : Wu, Xiaohua1; Rechercher : Baribeau, Jean-Marc1 |
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| Affiliation | - Conseil national de recherches Canada. Institut des sciences des microstructures du CNRC
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| Format | Texte, Article |
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| Date de publication | 2009 |
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| Dans | |
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| Langue | anglais |
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| Publications évaluées par des pairs | Oui |
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| Numéro NPARC | 12441077 |
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| Exporter la notice | Exporter en format RIS |
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| Identificateur de l’enregistrement | 1b306486-5c3e-40af-9449-c2d991dbf05b |
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| Enregistrement créé | 2009-09-25 |
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| Enregistrement modifié | 2023-04-17 |
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