Photonic temperature and wavelength metrology by spectral pattern recognition

Par Conseil national de recherches du Canada

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DOITrouver le DOI : https://doi.org/10.1364/OE.394642
AuteurRechercher : 1; Rechercher : 1; Rechercher : 1Identifiant ORCID : https://orcid.org/0000-0002-0490-5224; Rechercher : 2; Rechercher : 3; Rechercher : 3; Rechercher : 1; Rechercher : 1Identifiant ORCID : https://orcid.org/0000-0003-4232-9130; Rechercher : 1; Rechercher : 1Identifiant ORCID : https://orcid.org/0000-0003-2151-2438; Rechercher : 1Identifiant ORCID : https://orcid.org/0000-0002-3427-0186
Affiliation du nom
  1. Conseil national de recherches du Canada. Électronique et photonique avancées
  2. Conseil national de recherches du Canada. Herzberg en astronomie et en astrophysique
  3. Conseil national de recherches du Canada. Centre de recherche en métrologie
FormatTexte, Article
Titre de la revueOptics Express
ISSN1094-4087
Volume28
Numéro12
Pages1740917423
Résumé
Date de publication
Maison d’éditionOSA Publishing
Langueanglais
Publications évaluées par des pairsOui
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Identificateur de l’enregistrement0786cc88-5e41-4e0d-8982-aeb0f6c91427
Enregistrement créé2020-06-29
Enregistrement modifié2020-06-30
Date de modification: